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Product Center當(dāng)前位置:首頁(yè)產(chǎn)品中心材料樣品檢測(cè)真空探針臺(tái)
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產(chǎn)品分類(lèi)該氣敏測(cè)試真空探針臺(tái)的承片臺(tái)X/Y/Z三個(gè)方向均可在真空環(huán)境下調(diào)節(jié),其中X方向調(diào)節(jié)范圍:0-30mm;y方向調(diào)節(jié)范圍:0-13mm;z方向調(diào)節(jié)范圍:0-13mm;用戶(hù)可根據(jù)需要自行調(diào)節(jié)。使用時(shí)將需檢測(cè)的器件固定在加熱臺(tái)上,再微
小型真空探針臺(tái)高溫?zé)崤_(tái)KT-0904T-R主要用于為被測(cè)芯片提供一個(gè)高溫的變溫測(cè)量環(huán)境,以便測(cè)量分析溫度變化時(shí)芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測(cè)芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導(dǎo)體器件接觸空氣所帶來(lái)的測(cè)試結(jié)果誤差。
高溫?zé)崤_(tái)小型真空探針臺(tái)KT-0904T-R在高溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試、LD/LED/PD測(cè)試、光纖光譜特性測(cè)試、材料/器件的IV/CV特性測(cè)試、霍爾測(cè)試、電磁輸運(yùn)特性、高頻特性測(cè)試等
Mini真空探針臺(tái)KT-0904T是一款普通型無(wú)高溫低溫系統(tǒng)真空探針臺(tái),尺寸300mmX260mm,輕便小喬,功能齊全。可應(yīng)用于導(dǎo)體/微電子,電子,機(jī)電,物理,化學(xué),材料,光電,納米,微機(jī)電/MEMS,生物芯片,航空航天等科學(xué)研究領(lǐng)域,以及IC設(shè)計(jì)/制造/測(cè)試/封裝、LED、LCD/OLED、LD/PD、PCB、FPC等生產(chǎn)制造領(lǐng)域。
高溫真空腔光學(xué)測(cè)試KT-Z4019MRL4T,300X300X170(mm) 氣浮隔振+阻尼隔振+橡膠減震底腳,-196℃至350℃微型高低溫探針臺(tái),小巧輕便,功能齊全。