半導(dǎo)體測試探針臺是一款適用于4-6英寸晶圓測試的基本型探針臺，結(jié)構(gòu)緊湊，配置豐富，可搭配中體式或視頻顯微鏡，實(shí)用且性價比高，非常適合高校、研究機(jī)構(gòu)、半導(dǎo)體工廠等實(shí)驗(yàn)室的半導(dǎo)體測試應(yīng)用，模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，支持后期靈活擴(kuò)展升級。

半導(dǎo)體測試探針臺產(chǎn)品特點(diǎn)

◆帶卡盤快速拖出機(jī)構(gòu)，方便晶圓上下片

◆卡盤可360°旋轉(zhuǎn)及小角度微調(diào)

◆采用雙臂萬向顯微鏡支架，可360°*旋轉(zhuǎn)或前后快速移動顯微鏡，方便快速定位任意針測位置

◆卡盤平移臺采用精密絲桿傳動結(jié)構(gòu)，無回程差設(shè)計(jì)，定位精準(zhǔn)

◆全新表面處理針座平臺，摩擦力大，針座吸附更穩(wěn)定

◆卡盤可選鍍金卡盤、高溫卡盤、陶瓷卡盤、高透石英玻璃等

◆兼容連續(xù)變倍體視顯微鏡或視頻顯微鏡

◆臺面可個性化定制，滿足特殊測試需求

◆可集成光電流掃描成像或拉曼-瞬態(tài)熒光壽命成像系統(tǒng)

◆模塊化設(shè)計(jì)，方便后期功能擴(kuò)展升級

應(yīng)用方向

晶圓/樣片/分立器件/晶體管/納米器件/功率器件測試；封裝器件/PCB板測試；LED/PD/LD光電材料/器件的測試、可靠性分析或失效分析；30微米以上電極/PAD測試；I/V、C/V、C/F、射頻S參數(shù)、有源測試、耐壓測試、ESD測試、混合參數(shù)測試等

目前公司已研發(fā)生產(chǎn)產(chǎn)品十多個系列幾十款產(chǎn)品，產(chǎn)品囊括實(shí)驗(yàn)電爐   CVD供氣系統(tǒng)   等離子清洗機(jī)   小型離子濺射儀   小型蒸鍍儀  石英管真空封口   半導(dǎo)體等。 主要適用于科研院校及工礦企業(yè)在新材料、新能源等領(lǐng)域物理特性及化學(xué)特性的研究，廣銷于各大院校，及材料研究所。

    公司與國內(nèi)高校，科研院所有多層次的合作關(guān)系，建有開放實(shí)驗(yàn)室，相關(guān)領(lǐng)域的教授、工程師、博士參與公司產(chǎn)品的研究和開發(fā)。我們秉承公司的發(fā)展理念，依靠嚴(yán)謹(jǐn)?shù)募夹g(shù)研發(fā)能力，科學(xué)合理的生產(chǎn)工藝，精益求精的制造要求，全心全意做好產(chǎn)品質(zhì)量和服務(wù)工作，科探儀器時刻懷著一顆真誠的心期待與您的合作。